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N5250A

Agilent N5250A毫米波网络分析仪N5250C

Agilent N5250A 毫米波 PNA 系列网络分析仪, 10 MHz 至 110 GHz

N5250A用单扫描测量使频率覆盖达到10MHz至110GHz。紧凑的测试头和2个内装合成器把占用空间减到最小,同时也降低了总维护成本。
主要特性与技术指标
10 MHz至110 GHz单扫描频率范围
端口1接25 dB微米衰减器
32 个通道,每条迹线有 16,001 个测量点
2种新的校准能力,基于数据的校准标准和扩展的校准算法,提供增强的精度和设计可靠性
带有偏置T型接头(Bias- Tees)的可选毫米波模块及端口2衰减器

在30至300 GHz之间,毫米波测量的应用正在增加。从高数据速率到汽车行业再到射电天文学,灵活的测量解决方案正日益显现出它的优势。在这些应用中,毫米波测量解决方案就必须遵守很多规则。例如,探测环境中的晶圆器件表征,或通过波导或同轴接口进行模块测试。解决方案还包括夹具中或自由空间的材料测量,或室外/室内天线测试。 
与低于3 GHz的应用相比,当前对毫米波元器件的要求相对较低,但是期望性能却非常高。因此,频率范围和测量能力可扩展的测量解决方案将提供更大的灵活性,以适应多种应用。 
在许多新兴电子技术中,最初的元器件(例如,在晶圆上制作的器件)是基本的构建模块。之后,这些器件被切成方块,并通过引线键合加入到电路中,最终变成高度集成的模块,增加了功能并被封装成很小的体积。在作为模块进行进一步测试之前,器件是最先表征的晶圆。测试这些晶圆器件时所获得的数据可用于参数提取,以建立模型,之后模型就可用于电路仿真了。 
进行毫米波测量 
建立精确的电路仿真模型需要高质量、220-GHz的探测解决方案。例如,图1显示了从140至220 GHz的50纳米T选通变形GaAs HEMT晶圆测量1。可同时观看所有的4个S参数。请看左下方的迹线S21,在大约150 GHz处与X轴相交。为了揭示设备的真实增益,需要使用.s2p文件(原始数据)进行去嵌入处理,该处理过程可在网络分析仪内部进行也可脱机进行。 
使用Agilent N5250A PNA系列毫米波网络分析仪(带有140至220GHz(N5260AW05)测试探头模块)进行测量,采用Cascade Microtech公司的Summit系列12K探针台可进行晶圆测量。(图2显示了系统的110-GHz版本)。全部双端口晶圆校准使用Cascade Microtech的WinCal 2006校准软件进行,执行顺序为直通、反射、反射、匹配(LRRM)。

Agilent N5250C PNA 毫米波网络分析仪,10 MHz 至 110 GHz
主要特性与技术指标
最多 8 个项目符号,带一个或不带标题
最多 4 个标题,每个标题最多包含 4 个项目符号
可能包括任意链接——最多3个
单次扫描频率范围为 10 MHz 至 110 GHz
端口 1 有 25 dB 微米衰减器
64 个测量通道,每条迹线有 20,001 个测量点
基于数据的校准标准和扩展的校准算法,提供更佳的精度和更强的设计自信心
可选的频率扩展(至 0.5 THz)


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